wat半導體參數測試設備+晶圓片檢測儀認準普賽斯儀表，普賽斯儀表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數字源表，相比于傳統S系列源表，準確度提升至±0.03%，直流電流升級至3A，可為半導體行業提供更加精準、穩定的測試方案；詳詢

S型數字源表應用優勢：
1、多功能測量需求下的廣泛的適應性，電壓高達300V，電流低至30pA；
2、實現“源”的輸出和“表”的測量同步進行，提高測試效率。
3、具備對測試器件的保護功能，可進行自我限制，避免因過充而造成的對測試器件的損害；
精確的電壓電流限制功能，為器件提供完善的保護功能，避免器件損壞。
4、觸屏圖形化操作，使用簡單。開放式平臺，可根據實際應用的需求而針對性的開發軟件。

產品特點
5寸800*480觸摸顯示屏，全圖形化操作          

內置強大的功能軟件，加速用戶完成測試，如LIV、PIV

源及測量的準確度為0.03%

四象限工作（源和肼），源及測量范圍：高至300V，低至3pA

豐富的掃描模式，支持線性掃描、指數掃描及用戶自定義掃描

支持USB存儲，一鍵導出測試報告

支持多種通訊方式，RS-232、GPIB及以太網

技術參數

Z大輸出功率：30W，4象限源或肼模式；

源限度-電壓源：±10V（≤3A量程），±30V（≤1A量程），±300V（≤100mA量程）；

源限度-電流源：±3A（≤10V量程），±1A（≤30V量程），±100mA（≤300V量程）；

過量程： 105%量程，源和測量；

穩定負載電容：<22nF；

寬帶噪聲(20MHz)：2mV RMS（典型值），<20mV Vp-p（典型值）；

線纜保護電壓：輸出阻抗30KΩ，輸出電壓偏移<80mV；

蕞大采樣速率：S系列1000 S/s，SXXB系列32000S/s;

觸發：支持IO觸發輸入及輸出，觸發極性可配置；

輸出接口：前后面板香蕉頭插座輸出，同一時刻只能用前或者后面板接口；

通信口：RS-232、GPIB、以太網；

電源：AC 100~240V 50/60Hz；

工作環境：25±10℃；

尺寸：106mm高 × 255mm寬 ×425mm長；

重量：5KG

質保期：1年

S系列源表應用

分立器件特性測試：電阻、二極管、發光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SiC、GaN等器件；
能量與效率特性測試：LED/AMOLED、太陽能、電池、DC/DC轉換器；
傳感器特性測試：電阻率、霍爾效應等；
有機材料特性測試：電子墨水、印刷電子技術等；
納米材料特性測試：石墨烯、納米線等；
激光器特性測試：窄脈沖LIV測試系統；
功率器件：靜態測試系統；
電流傳感器：動靜態參數測試系統；

武漢普賽斯儀表自主研發的高精度臺式數字源表、脈沖式源表、集成插卡式源表、窄脈沖電流源、高精度高壓電源等，田補國產空白。主要應用于半導體器件的測試工藝，為客戶提供模塊化硬件、搞效驅動程序和搞效算法軟件組合，幫助用戶構建自定義解決方案。為半導體封測廠家提供相關測試儀表、測試平臺，以及相關技術服務，滿足行業對測試效率、測試精度，以及低成本的挑戰。詳詢一八一四零六六三四七六；